1. Advanced electron microscopy and nanomaterials: selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials )AEM-NANOMAT '09(, Saltillo )Coahuila( Me۱جxico, September 29th-October 2nd, 2009
پدیدآورنده : edited by: Arturo Ponce and Dario Bueno
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Congresses ، Electron microscopy,Congresses ، Nanostructured materials
رده :
TA
418
.
9
.
N35
A3275
2010
2. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده : / Jian Min Zuo, John C.H. Spence
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Transmission electron microscopy.,Materials science.,Nanochemistry.,Solid state physics.,Nanoscience.,Nanostructures.,Nanotechnology.
رده :
TA404
.
6
.
Z88
2017
3. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده : / Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Transmission electron microscopy.,Nanostructured materials--Nondestructive testing
رده :
QH212
.
T7A39
2015
4. An introduction to scanning acoustic microscopy
پدیدآورنده : Briggs, Andrew
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Materials-- Microscopy,، Acoustic microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
B75
1985
5. Analytical electron microscopy for materials science
پدیدآورنده : Shindo D. )Daisuke(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Materials-- Microscopy,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
S5513
2002
6. Applied scanning probe methods
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials ; Microscopy. ;
7. Applied scanning probe methods
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Scanning probe microscopy.,Scanning probe microscopy--Industrial applications,Materials--Microscopy
رده :
TA417
.
23
.
A655
2004
8. Applied scanning probe methods
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials ; Microscopy. ;
9. Applied scanning probe methods
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials ; Microscopy. ;
10. Applied scanning probe methods IV: industrial applications
پدیدآورنده : Bharat Bhushan, Harald Fuchs [Eds.]
کتابخانه: کتابخانه پردیس بین الملل كیش دانشگاه تهران (هرمزگان)
موضوع : Materials -- Microscopy,Scanning probe microscopy
11. Applied scanning probe methods V
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Satoshi Kawata (eds.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy- Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
A655
2007
12. Applied scanning probe methods V
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Satoshi Kawata (eds.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy- Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
A655
2007
13. Applied scanning probe methods VI
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Satoshi Kawata (eds.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy- Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
A655
,
2007b
14. Applied scanning probe methods VI
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Satoshi Kawata (eds.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy- Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
A655
,
2007b
15. Applied scanning probe methods VI
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Satoshi Kawata (eds.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy- Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
A655
,
2007b
16. Applied scanning probe methods VII
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials ; Microscopy. ; Scanning probe microscopy. ; Scanning probe microscopy ; Industrial applications. ; Biomimetics. ;
17. Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials ; Microscopy. ;
18. Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns
پدیدآورنده : Dingley, David J.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Materials - Microscopy , Scanning electron microscopy , Diffraction patterns , Crystallography
رده :
TA
417
.
23
.
D56
19. Basic malaria microscopy
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه الزهراء (س) (تهران)
موضوع : ، Malaria-- Diagnosis-- Laboratory manuals,، Microscopy-- Laboratory manuals,، Teaching materials
رده :
RA
10
.
B37
20. Characterization of Metals and Alloys
پدیدآورنده : edited by Ramiro Perez Campos, Antonio Contreras Cuevas, Rodrigo A. Esparza Munoz
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Materials science,، Metals,، Microscopy,، Spectroscopy
رده :
TN
690
.
R34
2017